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x射线荧光光谱仪的特点性能
x射线荧光光谱仪可用于对大块、不均匀、不规则，甚至小件的样品和包裹物进行高灵敏度、非破坏性的元素分析（na11-u92），是研究样品成分分析、成分分布规律的新，可以给学者从宏观、微观、微宏观结合等多个角度提供新的研究思路。
· 采用多导毛细管镜，可将激发光到非常小的区域 （<20μm），以获得的空间分辨率，进行元素成像分析
· 涡轮增速x-y-z样品台，借助放大倍数可变的***系统获得的样品影像。
· 通过可选的双x射线光管和多6个滤光片进行灵活的激发。
· 使用xflash®探测器高速地获取样品图谱，另外，使用多个探测器可以进一步提高测量速度。
· 基于无标样分析法准确定量分析块状样品，准确分析多层膜样品。
· 具有便捷进样功能的可抽真空的样品室
· 输出的元素分布图，分辨率可4000万像素，7168*5582 pixels。
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https://www.chem17.com/st4016/list_1063691.html
https://www.chem17.com/st4016/product_18827555.html
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